MDPI APPLIED SCIENCES

本研究グループの以下の研究成果が，MDPI Applied Sciences誌（IF=2.679）に掲載されました．

https://www.mdpi.com/2076-3417/11/24/12062（OPEN ACCESS）

Reina MURAKAMI, Valentin GRAVE, Osamu FUKUDA, Hiroshi OKUMURA, and Nobuhiko YAMAGUCHI : Improved Training of CAE-Based Defect Detectors Using Structural Noise, MDPI Applied Sciences, 11(24), 2021.